显微分析
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显微分析涉及到许多样品类型，包括冶金和地质样本，电子材料，陶瓷和各种表面污染物的微观分析。主要检测设备有：扫描电子显微镜(SEM)，X射线能量色散谱仪(EDS)，X射线波长色散谱仪(WDS)，激光共聚焦扫描显 微镜(LSCM)，原子力显微镜(AFM)，俄歇电子能谱仪(AES)，透射电子显微镜(TEM)和光学显微镜(OM)等
显微分析设备
扫描电子显微镜(SEM)，X射线能量色散谱仪(EDS)，X射线波长色散谱仪(WDS)，激光共聚焦扫描显微镜(LSCM)，原子力显微镜(AFM)，俄歇电子能谱仪(AES)，X射线光电子能谱仪(XPS)，透射电子显微镜(TEM)，相移干涉仪(PSI)，扫描探针显微镜(SPM)，光学显微镜(OM)
主要分析项目
表面微观形貌分析,表面污染物分析,微区成分分析,相结构分析,织构分析,金相组织分析,镀层厚度测试,三维尺寸测量等 |
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